藍(lán)景科技 偏光應(yīng)力儀 光學(xué)元件研發(fā)關(guān)鍵表征工具

高-端光學(xué)鏡頭、激光晶體、光纖預(yù)制棒等精密光學(xué)材料對內(nèi)部應(yīng)力極為敏感，微小雙折射即可導(dǎo)致成像畸變或光路偏移。藍(lán)景科技偏光應(yīng)力儀憑借優(yōu)于3nm的測量精度與雙模式檢測能力（定量+定性），成為科研院所與光學(xué)企業(yè)開展材料研發(fā)與工藝優(yōu)化的關(guān)鍵表征工具。

儀器配備1/4波片（141±10nm）與全波片（565nm），既可通過Senarmont法精確測定光程差數(shù)值，用于計算折射率各向異性；又可利用靈敏色片觀察干涉色分布，快速定位注塑或退火過程中的應(yīng)力集中區(qū)。φ250mm大偏振場兼容異形棱鏡、非球面鏡坯等復(fù)雜樣品；檢偏鏡360°旋轉(zhuǎn)配合0.1°角度分辨率，實現(xiàn)全域掃描分析。

設(shè)備支持用戶自定義樣品厚度參數(shù)，自動換算單位厚度應(yīng)力值，便于不同批次材料橫向?qū)Ρ取?shù)據(jù)可導(dǎo)出用于光學(xué)仿真軟件（如Zemax）輸入邊界條件，指導(dǎo)退火曲線優(yōu)化。

某國家重點實驗室利用該儀器評估新型氟化物玻璃的熱處理工藝，發(fā)現(xiàn)800℃保溫2小時可將殘余應(yīng)力降低60%，顯著提升透鏡透過率。一激光器制造商則通過應(yīng)力分布圖改進(jìn)晶體切割方向，減少裝配后光束漂移。

藍(lán)景科技偏光應(yīng)力儀，讓“看不見"的應(yīng)力變?yōu)椤翱闪炕?的設(shè)計參數(shù)，驅(qū)動光學(xué)創(chuàng)新邁向極-致純凈。